Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.advisorSaraçoğlu, Hanife
dc.contributor.authorİlgü, Gonca
dc.date.accessioned2020-07-21T21:30:38Z
dc.date.available2020-07-21T21:30:38Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.urihttp://libra.omu.edu.tr/tezler/71883.pdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12712/26465
dc.descriptionTez (yüksek lisans) -- Ondokuz Mayıs Üniversitesi, 2012en_US
dc.descriptionLibra Kayıt No: 71883en_US
dc.description.abstracten_US
dc.formatIX, 63 y. : şekil ; 30 smen_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherOndokuz Mayıs Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectX ışınları kristalografisien_US
dc.subjectX-ışını kırınımıen_US
dc.subject.otherTEZ YÜK LİS İ274 2012en_US
dc.titleTek kristal x-ışınları yöntemi ile C12H19N3OS, C17H22N2S ve C19H25N3O kristallerinin yapı analizleri / Gonca İlgü ; danışman Hanife Saraçoğluen_US
dc.typemasterThesisen_US
dc.contributor.departmentOMÜ, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalıen_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US]


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster