Dikey Ölçeklemede Madde Tepki Kuramına Dayalı Kalibrasyon ve Yetenek Kestirim Yöntemlerinin Karşılaştırılması*

Abstract

Bu araştırma kapsamında; ortak madde deseninde madde tepki kuramına dayalı ayrı ve eş zamanlı kalibrasyon ve Expected A Posteriori, Maximum A Posteriori ve Maksimum Olabilirlik yetenek kestirim yöntemleri kombinasyonuyla elde edilen dikey ölçeklerin karşılaştırılması yapılmıştır. Bu karşılaştırmayı yapabilmek için öncelikle 2008-2010 yılları arasında yapılan SBS sınavında sorulan sorulardan 6., 7. ve 8. sınıf matematik testleri oluşturulmuştur. Daha sonra 6. sınıftaki 503, 7. sınıftaki 502 ve 8. sınıftaki 500 öğrencinin zorluk düzeyleri farklı olan matematik testlerine verdikleri cevaplardan elde edilen puanlar kullanılarak dikey ölçekler geliştirilmiştir. Dikey ölçekleme süreciyle aynı ölçeğe yerleştirilen bu puanlardan elde edilen ölçek puanları kullanılarak ortalamalar, ortalamalar arasındaki fark, etki büyüklükleri ve yatay uzaklıklar hesaplanmış ve böylece ölçekleme sürecinde yapılan seçimlerin dikey ölçeklemeyi nasıl etkilediği belirlenmeye çalışılmıştır.

In this study the comparison of the vertical scales, which are obtained through the combination of separate and concurrent calibration based on item response theory and Expected A Posteriori,, Maximum A Posteriori and Maximum Likelihood proficiency estimation methods, take place. For this comparison firstly, math tests for the 6th, 7th and 8th grades were composed from the questions asked in SBS (high school entrance exam) between 20082010 years. Then, the vertical scales were developed by using the scores obtained from the answers of 503 6th grade, 502 7th grade and 500 8th grade students to the math tests in different difficulty levels. By using the scale scores which were obtained from these scores placed in the same scale with the vertical scaling process, means and the difference between the means, effect sizes and horizontal distances were calculated so it was tried to be determined how the choices in scaling process affected the vertical scaling.